알루미늄 패드 두께와 팔라듐 함량에 따른 금 와이어 본딩의 고온신뢰성 연구
- Sang Yeob Kim
- , Hyun Jun Park
- , Jong Jin Shin
- , Oh Sung Song
- University of Seoul
- MK Electron Co., Ltd.
Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
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