Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade

M. Abbas, M. Abbrescia, H. Abdalla, A. Abdelalim, S. AbuZeid, A. Agapitos, A. Ahmad, A. Ahmed, W. Ahmed, C. Aimè, C. Aruta, I. Asghar, P. Aspell, C. Avila, J. Babbar, Y. Ban, R. Band, S. Bansal, L. Benussi, T. BeyrouthyV. Bhatnagar, M. Bianco, S. Bianco, K. Black, L. Borgonovi, O. Bouhali, A. Braghieri, S. Braibant, S. D. Butalla, S. Calzaferri, M. Caponero, J. Carlson, F. Cassese, N. Cavallo, S. S. Chauhan, S. Colafranceschi, A. Colaleo, J. Collins, A. Conde Garcia, M. Dalchenko, A. De Iorio, G. De Lentdecker, D. Dell Olio, G. De Robertis, W. Dharmaratna, S. Dildick, B. Dorney, R. Erbacher, F. Fabozzi, F. Fallavollita, A. Ferraro, D. Fiorina, E. Fontanesi, M. Franco, C. Galloni, P. Giacomelli, S. Gigli, J. Gilmore, M. Gola, M. Gruchala, A. Gutierrez, T. Hakkarainen, J. Hauser, K. Hoepfner, M. Hohlmann, H. Hoorani, T. Huang, P. Iaydjiev, A. Irshad, A. Iorio, F. Ivone, W. Jang, J. Jaramillo, A. Juodagalvis, E. Juska, B. Kailasapathy, T. Kamon, Y. Kang, P. Karchin, A. Kaur, H. Kaur, H. Keller, H. Kim, J. Kim, S. Kim, B. Ko, A. Kumar, S. Kumar, N. Lacalamita, J. S.H. Lee, A. Levin, Q. Li, F. Licciulli, L. Lista, K. Liyanage, F. Loddo, M. Luhach, M. Maggi, Y. Maghrbi, N. Majumdar, K. Malagalage, S. Malhotra, S. Martiradonna, C. McLean, J. Merlin, M. Misheva, G. Mocellin, L. Moureaux, A. Muhammad, S. Muhammad, S. Mukhopadhyay, M. Naimuddin, S. Nuzzo, R. Oliveira, P. Paolucci, I. C. Park, L. Passamonti, G. Passeggio, A. Peck, A. Pellecchia, N. Perera, L. Petre, H. Petrow, D. Piccolo, D. Pierluigi, M. Rahmani, F. Ramirez, A. Ranieri, G. Rashevski, B. Regnery, M. Ressegotti, C. Riccardi, M. Rodozov, E. Romano, C. Roskas, B. Rossi, P. Rout, J. D. Ruiz, A. Russo, A. Safonov, A. K. Sahota, D. Saltzberg, G. Saviano, A. Shah, A. Sharma, R. Sharma, T. Sheokand, M. Shopova, F. M. Simone, J. Singh, U. Sonnadara, A. Stamerra, E. Starling, B. Stone, J. Sturdy, G. Sultanov, Z. Szillasi, D. Teague, D. Teyssier, T. Tuuva, M. Tytgat, I. Vai, N. Vanegas, R. Venditti, P. Verwilligen, W. Vetens, A. K. Virdi, P. Vitulo, A. Wajid, D. Wang, K. Wang, I. J. Watson, N. Wickramage, D. D.C. Wickramarathna, S. Yang, U. Yang, Y. Yang, J. Yongho, I. Yoon, Z. You, I. Yu, S. Zaleski

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

14 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade'. Together they form a unique fingerprint.

Physics